Laboratorium Materiałowych Badań Mikro- i Nanostrukturalnych

Jednostka: Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej, Wydział Chemii

Kategoria: nowe materiały

Słowa kluczowe (tagi): badanie przemian fazowych, stabilność nanostruktur, rezystometria

Tematyka badań naukowych:

• badanie stabilności nanostruktur oraz zachodzących w nich przemian strukturalnych.

Potencjalne zastosowanie prowadzonych badań naukowych:

• osadzanie cienkich warstw szerokiego zakresu materiałów;
• budowa optycznych cienkowarstwowych układów z materiałów dielektrycznych, metali lub mieszanych, o zadanych charakterystykach spektralnych.

Aparatura badawcza dostępna do działalności komercyjnej:

• układy UHV do osadzania cienkich warstw metodą rozpraszania jonowego i epitaksji z wiązki molekularnej;
• dyfraktometr rentgenowskie “Empyrean” wyposażony w 3-osiowy stolik goniometryczny do dyfrakcji powierzchniowej z warstw osadzonych metodą epitaksji;
• spektrofometr Shimadzu UV 2001PC (1998);
• układy do pomiarów rezystometrycznych metodą “in-situ” i rezystometrii resztkowej.

Potencjalne usługi badawcze:

• osadzanie cienkich warstw metodami rozpraszania jonowego i epitaksji z wiązki molekularnej;
• pomiary i analiza charakterystyk spektralnych układów cienkowarstwowych w zakresie UV-NIR;
• badanie przemian fazowych i równowag fazowych metodą rezystometrii.

Stosowane metody i techniki badawcze:

• pomiary absorbancji, transmitancji współczynnika zmętnienia, grubości warstw oraz współczynników załamania w cienkich warstwach dielektryków i półprzewodników;
• dyfrakcja i reflektometria rentgenowska;
• rezystometria.

Kontakt: cittru@uj.edu.pl

________________________________________________________________________________________________

Laboratory for Micro- and Nanostructural Materials Research

Faculty: Faculty of Physics, Astronomy and Applied Computer Science, Faculty of Chemistry

Category: new materials

Catchwords (tags): structural transformation, structural stability, resistometry

Scientific research subjects:

• studies of structural stability and structural transformations in nanostructured materials.

Potential application of scientific research:

• deposition of thin films of diverse materials;
• vacuum deposition of optical, dielectric and/or metallic, thin film multilayers with predicted spectra characteristic.

Research apparatus available to commercial activity:

• UHV-standard chambers for Molecular-Beam-Epitaxy and Magnetron Ion Sputtering;
• X-ray diffractometer “Empyrean” equipped with 3-axis goniometer for surface diffraction from epitaxially deposited layers;
• spectrophotometer Shimadzu UV 2001PC (1998); thin-film analyzer F20-UV (2012);
• systems for “in-situ” and residual resistometry.

Potential research services:

• thin-film deposition by means of Magnetron Ion Sputtering and Molecular Beam Epitaxy;
• measurements and analysis of the spectra response multilayer thin films in range UV-NIR;
• studies of phase transformations and phase equilibria by means of resistometry.

Methods and research techniques:

• measurements of absorbance, transmittance, measurements of turbidity and thickness and optical constants (n and k) of dielectric and semiconductor thin films;
• X-ray diffraction and reflectometry;
• resistometry.

Contact: cittru@uj.edu.pl